德國 SFC Koenig 膨脹密封堵頭MB 600-120技術(shù)參數(shù)介紹

 

      壓脹式密封堵頭是根據(jù)壓力膨脹原理工作。鋼球被壓到套筒底部時，鋼球使一段套筒產(chǎn)生徑向膨脹，軸向應(yīng)力轉(zhuǎn)變?yōu)樘淄驳膹较蚺蛎浶?yīng)。此刻，由套筒外圍環(huán)形槽所形成的尖齒被迫壓入周圍的工件材料中，從而形成有效的高壓無泄漏密封。該元件廣泛用于液壓和氣動元件（閥組、油缸或氣缸等）多余流體通道口的封堵。球漲式高壓堵頭可代替：鋼球堵、錐形螺堵、焊接銷堵以及帶密封墊螺堵等各種各樣綜合封堵。深孔的封堵尤能體現(xiàn)其優(yōu)越性。在鋼、球墨鑄鐵、灰口鑄鐵、銅以及中、高強度鋁合金材料的工件上可以得到有效的高壓無泄漏密封

 

      拉脹式密封堵頭，當安裝工具將套筒定位在孔內(nèi)，同時向往外拉心軸，套筒受力膨脹，心軸在預定受力點被拉斷。工件密封式通過套筒外圍環(huán)形槽所形成的尖齒被迫壓入周圍的工件材料中而完成

膨脹達到需求尺寸以實現(xiàn)咬合密封工藝孔的目的。安裝壓脹式堵頭時要求工藝孔配 

以沉孔。如果您不確定MB600膨脹密封堵頭系列是否適合您的應(yīng)用程序，請使用我們的產(chǎn)品選擇器來識別適合您的規(guī)格的最佳孔瑞格膨脹堵頭。

 

材料:

 

套筒: 不銹鋼 1.4305    鋼球: 不銹鋼 1.4301

 

    MB 600-030

    MB 600-040

    MB 600-050

    MB 600-060

    MB 600-070

    MB 600-080

    MB 600-090

    MB 600-100

    MB 600-120

    MB 600-140

德國LANGER探測頭

   德國LANGER近場探頭LANGER EMV-Technik近場探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik測量儀LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik場頻信號發(fā)生器LANGER EMV-Technik脈沖發(fā)生器LANGER EMV-Technik探測頭LANGER EMV-Technik電路檢測器。

 

     LANGER EMV-Technik是一家在電磁兼容領(lǐng)域（EMC）進行研究開發(fā)生產(chǎn)和培訓的德國企業(yè)。LANGER EMV-Technik的電磁干擾發(fā)射和抗干擾能力測量技術(shù)以及集成電路測試系統(tǒng)為開發(fā)全過程提供支持，在全球范圍內(nèi)廣受歡迎。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術(shù)展現(xiàn)出在組件和集成電路開發(fā)中的新視角和經(jīng)濟高效的工作策略。LANGER EMV-Technik為近場測試設(shè)計的探頭，是電磁兼容工程師必備的*基本工具，用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測PCB的電磁場情況，近場探頭的優(yōu)點：

多達19個各種形狀的探頭，可以完成幾乎所有的電磁場測試任務(wù)；

多種分辨率的探頭，實現(xiàn)從粗略定位到精細定位

低成本高性能；

頻率范圍覆蓋100kHz－3GHz；

適用于檢查機箱泄漏PCB內(nèi)部電磁場分布電纜上的電磁場分布等；

使用簡單，攜帶方便。

近場探頭的用途：

主要應(yīng)用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生的原因。

可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度。

可以檢測磁場耦合的通道，從而調(diào)整連接器或者是顯示器位置

可以檢測PCB附近的磁場環(huán)境情況

 

產(chǎn)品范圍：

德國LANGER近場探頭LANGER EMV-Technik近場探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik測量儀LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik場頻信號發(fā)生器LANGER EMV-Technik脈沖發(fā)生器LANGER EMV-Technik探測頭LANGER EMV-Technik電路檢測器

 

主要型號：

德國LANGER BD06B

德國LANGER BD01B

德國LANGER BD01E

德國LANGER BD11

德國LANGER MFA 01

德國LANGER XF 1

德國LANGER SX

德國LANGER MFA01

德國LANGER MFA02

德國LANGER SX1

德國LANGER XF1

德國LANGER XF

德國LANGER RF1

德國LANGER RF2

德國LANGER RF3

德國LANGER RF4-E

德國LANGER RF-E

德國LANGER LF1

德國LANGER LF

德國LANGER PA203

德國LANGER PA303

德國LANGER RFS

德國LANGER VM251

 

MFA 01微型近場探頭組簡介：

由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高，PCB上存在大量雜散場和雜散電流，并以磁場形式相互耦合，導致產(chǎn)生GHz級別的輻射騷擾。*的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由于PCB上大量安裝高密度SMD器件，只有使用高分辨率探頭，才能真正找出問題所在。

LANGER EMV-Technik公司*推出的新一代手持式有源近場探頭（MFA 01），頻率范圍覆蓋1MHz到6GHz，分辨率可達200µm，用于PCB布線元器件和IC引腳的細致的磁場測量，能對集成電路引腳或SMD器件進行選擇性的測量，使用MFA-R 0.2-6探頭能診斷高頻磁場問題，使用MFA-K 0.1-12探頭能確定高頻電流。所有微型磁場探頭都有內(nèi)置的放大器，BT 706偏置器給放大器提供供電。偏置器的阻抗為50?，為微型磁場探頭提供穩(wěn)定的供電（9V/100mA），BT 706帶有一個12V/70mA的電源。微型磁場探頭以及偏置器采用SMA連接器。

近場探頭組MFA 01包括：

H-場探頭MFA-R 0,2-6

H-場探頭MFA-R 0,2-75

H-場探頭MFA-K 0,1-12

偏置器BT 706

電源適配器

SMA-SMA電纜，長度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技術(shù)指標：

	頻率范圍	分辨率	結(jié)構(gòu)	連接器
MFA-R 0,2-75	1MHz～1GHz	300 µm	雙水平環(huán)	SMA
MFA-R 0,2-6	100MHz～6GHz	300 µm	垂直環(huán)	SMA
MFA-K 0,1-12	100MHz～6GHz	200 µm	垂直環(huán)	SMA
偏置器BT 706	500kHz～6GHz			SMA

 

SX系列近場探頭簡介：

SX系列近場探頭，用于測量電子模塊元器件和IC引腳的高頻近場，頻率范圍可達10GHz。探頭內(nèi)部不含預放，為無源探頭，可使用射頻電纜連接到預放或頻譜分析儀的50歐姆輸入端。