IBS光學(xué)干涉儀ARINNA AR20

 

 

 

技術(shù)參數(shù)

 

AR20

Z 范圍 （μm） 1,6

每次捕獲 FOV （毫米） 0，28 x 0，28

Z 分辨率 （μm） 0,002

結(jié)果時(shí)間（秒） 1,5

工作距離（毫米） 20

分辨率為 15kHz 100納米@1kHz

零/偏移調(diào)整 不

典型的熱漂移 0，04% F.S.*/C

LED 范圍指示器 不

其他功能 兩個(gè)環(huán)境范圍 - 標(biāo)準(zhǔn)到 125C，高到 200C

 

 

 

 ARINNA 是一種高速干涉儀，它結(jié)合了納米級表面測量的優(yōu)點(diǎn)、堅(jiān)固性和小巧的占地面積，使其能夠在您需要的地方進(jìn)行在線測量。雖然干涉儀帶來了速度、精度和無損測量的優(yōu)勢，但階梯結(jié)構(gòu)和嘈雜的環(huán)境通常是它們的局限性。ARINNA 并非如此。

 

ARINNA 采用的波長掃描技術(shù)避免了在測量頭中進(jìn)行機(jī)械掃描的需要，正如一些干涉測量系統(tǒng)所采用的那樣。這克服了對測量速度和系統(tǒng)集成（例如頭部 360 度定向的能力）的相關(guān)限制。對于在線使用，ARINNA 的設(shè)計(jì)中集成了獲得專利的振動(dòng)補(bǔ)償技術(shù)。這種技術(shù)避免了對大型和/或復(fù)雜的隔離系統(tǒng)的需要；有時(shí)是高精度光學(xué)測量系統(tǒng)在現(xiàn)場應(yīng)用的限制因素。

 

ARINNA 能夠以 <2nm 的垂直分辨率測量離散的臺階高度和表面質(zhì)量。百萬像素相機(jī)在 1 秒內(nèi)捕獲表面掃描。它可用于在線缺陷檢測和表征、光學(xué)表面和結(jié)構(gòu)測量、3D 表面拓?fù)錅y量、MEMS/NEMS 檢查等。